Xilinx FPGA之AD和DA联合测试

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简介: 该实例工程的功能框图如图所示。DA输出同IIC协议实现,DA输出的数据来自导航按键的设置,DA输出数据显示在数码管的高两位;AD实时采集模块实现SPI协议,定时采集AD芯片TLC549中的模拟电压数据,其值显示在数码管的低两位。

1功能简介

该实例工程的功能框图如图所示。DA输出同IIC协议实现,DA输出的数据来自导航按键的设置,DA输出数据显示在数码管的高两位;AD实时采集模块实现SPI协议,定时采集AD芯片TLC549中的模拟电压数据,其值显示在数码管的低两位。

Xilinx FPGA之AD和DA联合测试

2模块划分

本实例模块划分如图所示。Xilinx FPGA之AD和DA联合测试

● Adc_controller.v模块定时进行AD芯片的模拟量转换和采集。

● Seg7.v模块驱动数码管显示当前期望输出的DA数据。

● Dac_controller.v模块输出DA数据到芯片DAC5571中。

● Key_check.v判断导航按键的按下与否,相应设置DA输出数据。

3板级调试

连接好下载线,给SP6开发板供电。

打开ISE,进入iMPACT下载界面,将本实例工程下的sp6.bit文件烧录到FPGA中在线运行。

确保P10的PIN2和PIN3用跳线帽短接。

此时当我们使用导航按键进行DA输出数据设定,则相应的高两位和低两位数码管都会发生变化,而且基本是一致的。这说明AD和DA芯片都能正常的工作。

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