单片机开发中应掌握的几个技巧

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简介:一、 如何提高C语言编程代码的效率 二、如何解决单片机的抗干扰性问题 三、 如何测试单片机系统的可靠性

在单片机应用开发中,代码的使用效率问题、单片机抗干扰性和可靠性等问题仍困扰着工程师。为帮助工程师解决单片机设计上的难题,《电子工程专辑》网站特邀Holtek香港分公司工程部处长邓宏杰先生担任《单片机应用编程技巧》专题讨论的嘉宾,与广大设计工程师交流单片机设计开发经验。现根据论坛中的讨论归纳出单片机开发中应掌握的几个基本技巧。

一、 如何提高C语言编程代码的效率

邓宏杰指出,用C语言进行单片机程序设计是单片机开发与应用的必然趋势。他强调:“如果使用C编程时,要达到最高的效率,最好熟悉所使用的C编译器。先试验一下每条C语言编译以后对应的汇编语言的语句行数,这样就可以很明确的知道效率。在今后编程的时候,使用编译效率最高的语句。”

二、如何解决单片机的抗干扰性问题

邓宏杰指出:防止干扰最有效的方法是去除干扰源、隔断干扰路径,但往往很难做到,所以只能看单片机抗干扰能力够不够强了。单片机干扰最常见的现象就是复位;至于程序跑飞,其实也可以用软件陷阱和看门狗将程序拉回到复位状态;所以单片机软件抗干扰最重要的是处理好复位状态。

一般单片机都会有一些标志寄存器,可以用来判断复位原因;另外你也可以自己在RAM中埋一些标志。在每次程序复位时,通过判断这些标志,可以判断出不同的复位原因;还可以根据不同的标志直接跳到相应的程序。这样可以使程序运行有连续性,用户在使用时也不会察觉到程序被重新复位过。

三、 如何测试单片机系统的可靠性

有读者希望了解用用什么方法来测试单片机系统的可靠性,邓宏杰指出:“当一个单片机系统设计完成,对于不同的单片机系统产品会有不同的测试项目和方法,但是有一些是必须测试的:

1.测试单片机软件功能的完善性。这是针对所有单片机系统功能的测试,测试软件的写的正确完整。

2.上电、掉电测试。在使用中用户必然会遇到上电和掉电的情况,可以进行多次开关电源,测试单片机系统的可靠性。

3.老化测试。测试长时间工作情况下,单片机系统的可靠性。必要的话可以放置在高温,高压以及强电磁干扰的环境下测试。

4、ESD和EFT等测试。可以使用各种干扰模拟器来测试单片机系统的可靠性。例如使用静电模拟器测试单片机系统的抗电ESD能力;使用突波杂讯模拟器进行快速脉冲抗干扰EFT测试等等。

邓宏杰强调:“还可以模拟人为使用中,可能发生的破坏情况。例如用人体或者衣服织物故意摩擦单片机系统的接触端口,由此测试抗静电的能力。用大功率电钻靠近单片机系统工作,由此测试抗电磁干扰能力等。”

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