电阻可编程模拟温度传感器设计方案

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简介:LM57采用极小封装的电阻(0.5mm×1mm),可以编程为任意的256跳闸温度,并占用很小的电路板空间。VTEMP输出可以提供一个模拟输出电压,该输出电压具有负温度系数(NTC),与测量的温度成正比。

LM57采用极小封装的电阻(0.5mm×1mm),可以编程为任意的256跳闸温度,并占用很小的电路板空间。VTEMP输出可以提供一个模拟输出电压,该输出电压具有负温度系数(NTC),与测量的温度成正比。

器件内置温度迟滞(THYST)可以保持输出稳定(在热振荡的环境中)。当裸片温度超过TTRIP时,数字温度开关输出将被激活,当温度低于TTRIP minus THYST时,将释放数字温度开关输出。其中一个数字输出,TOVER,是高活跃推挽结构。其他数字输出,TOVER是低活跃漏极开路结构。

电阻可编程模拟温度传感器设计方案

图1 LM57内部方框图

如果TRIP-TEST输入高,将使数字输出活跃。一个处理器可读取温度开关输出的逻辑电平,以确认他们进入了活跃状态。这样就可以现场核实,系统组装后,比较器和输出电路的功能正常。在TRIP-TEST引脚为高电平时,断路电平参考电压出现在VTEMP引脚。然后,系统可以使用这个电压,对传感器的精度进行更严格的校准。将TOVER连接TRIP-TEST可以在输出断路后锁存输出。通过强制压低TRIP-TEST,或置LM57断电可以将其清除。

表1 LM57方案材料清单

电阻可编程模拟温度传感器设计方案

由于最大电流仅消耗28μA,器件具有非常低的自加热,在静止空气中约0.02℃。

LM57主要特性

•断路温度由外部电阻设定

•外部电阻有助于零误差

•推挽和漏极开路温度开关输出

•宽工作温度,跳闸温度范围-50℃~150℃

•完全线性模拟VTEMP温度传感器输出

•短路保护模拟和数字输出

• TRIP-TEST引脚允许在系统中测试

•数字输出的闭锁功能

•超小型2.5mm×2.5mm 8引脚WSON封装

电阻可编程模拟温度传感器设计方案

图2 LM57方案原理图

电阻可编程模拟温度传感器设计方案

图3 PCB元件布局图

LM57应用

•手机

•无线收发器

•数码相机

•个人数字助理(PDA)

•电池管理

•汽车

•磁盘驱动器

•游戏

•电器

LM57方案

该LM57EVM评估模块(EVM)可帮助设计人员评估LM57的操作和性能。LM57是一款高精度、双路输出,带有集成的温度开关的模拟温度传感器。用户可以通过可编程电阻器设置断路温度(TTRIP)。LM57可以被编程为任何256的断路温度。

该EVM包含一个LM57电阻可编程温度开关和模拟温度传感器。它与LLP-8-10 LM57BISD预先组装在一起,并和LM57有10℃的迟滞。其头部连接器允许用户把所有的封装引脚外露,以便于观察和测试。

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