通常钻过孔的板比未钻孔的板，在AOI 检测时更复杂一些。因为经过钻孔的板上，孔对AOI 检测有较大影响。当出现偏孔、破孔，孔环宽度小于最小线宽，孔尺寸与资料尺寸有所差异，孔位置与资料所记录位置有微小偏差等情况时，在孔位置处将会报告大量缺陷。本文从理论原理上分析了出现上述情况的原因，并通过优化检测参数，在保证检测可靠性的同时，减少假缺陷数。
AOI（自动光学检测）
检测仪广泛应用于各PCB 厂家中，主要用来检测PCB 半成品的表面缺陷，进行过程控制，从而达到降低成本，保证质量的目的。由于各生产厂家的PCB 板面情况不同，在实际的检测过程中遇到的问题也不同，因此在实际的检测过程中需要对一些参数进行适当的调整，尽可能减少漏测和假点，保证检测的可靠性，节约检测时间。
PCB板面孔对AOI检测的影响
由PCB板面孔引起假缺陷的原因及缺陷类型
通常情况下，钻过孔的板比未钻孔的板，在AOI 检测时更复杂一些。因为经过钻孔的板面，孔对AOI 检测有较大影响。本文针对Orbotech 公司SK-75 型号AOI 检测机进行分析，从理论和实验两方面研究了PCB板面孔对检测结果的影响，并通过优化检测参数，在保证检测可靠性的同时，减少假缺陷数。
SK-75 采用直射光和散射光，照射到待测板面上，然后将板面反射光转换成模拟电信号，再转换成灰阶数字信号，最后处理成二进制（0，1）的黑白图案。再将所得的数字资料与母板资料在逻辑处理器中进行比较，根据所设置的参数报告不同之处并显示缺陷。
对于板面上的孔及其相应的孔环，在进行扫描检测时，其反射光被接收后，经处理所得到的二值（黑白）数字资料中，孔被处理成黑色，孔环则被处理成白色。
此数字资料包含了孔及孔环的特征类型、位置、形状，孔的大小，孔环的宽度等相关信息，同样地，母板资料也记录了孔及孔环的这些相应信息。在逻辑处理器中进行比较时，就是针对这样信息来进行处理的。
在扫描处理PCB板面孔及孔环的过程中，由于焦聚、灰阶临界值等参数的影响，扫描所得图像的尺寸及位置会与板面实际情况有一定的差异；此外，孔边缘处铜面（孔环）的反射光会对孔与孔环的分界位置的界定造成一定影响，从而也会导致所得到的孔及孔环的尺寸、位置与板面实际情况存在差异。若此差异值超出了所设定的允许容差值，则会报告尺寸不符等假缺陷。
另外，板面实际情况与母板对比资料也会存在一定的差异。工程CAM 资料并不能直接用作母板资料，来与板面扫描所得资料进行对比，还需对其先进行处理，其处理过程与检测PCB 板时对扫描图像的处理方式相类似。母板资料所用的孔层资料是钻孔资料，其所记录的孔尺寸是钻孔时尺寸， 而在AOI 扫描时，PCB板面孔经过了沉铜、电镀，其尺寸与资料所记录尺寸存在一定差值，这就导致了PCB板面孔实际尺寸与母板对比资料所记录的尺寸有所差异，从而也会出现报告假缺陷的情况。
在检测时还常会有情况出现：
1. 孔环宽度小于最小线宽或偏孔时，孔环处会报线宽不够。
2. 有破孔时，孔会报告开路、线宽不足、间距不足等缺陷。
3. 若检测平台有划伤，常会在较大的孔处报告残铜类缺陷。
参数优化方法
为减少上述假缺点，可采用将孔遮盖的方法。根据板面的实际情况，所选择的图案尺寸大小范围为0～100mil。
大多数厂家在进行AOI 检测时，为降低漏测的可能性，会将此文件删掉，那么在检测板面时，这些设计值（线宽／间距）小于所设定的参数值（最小线宽／间距）的图形处，仍会报告缺陷，这些缺陷就是真正的假缺陷。
不同厂家对于偏孔、破孔的接受标准不同，根据实际可接受标准，选择合适的形状及掩盖图形尺寸，可以大大地减少由孔所引起的假缺陷。但是，也有不完善的地方，在以下情况时，可能会导致一些其它的问题：
1. 假定孔尺寸为30mil ，选择尺寸为40mil 的圆形对孔进行掩盖。当未偏孔时，可将孔完全填充；若出现偏孔，掩盖图形将不能完全填充孔，这是因为在对孔进行填充时，所填充的位置是母板资料上所记录的孔位置，而不是板面实际孔位置。此时，就会报告诸如“开路、线宽不足、间距不足、孔破或残铜”等假缺陷。当检测板与母板资料对位不够精确时，也会出现类似情况。
2. 当板上孔尺寸相差较大时，较难找到合适的填充尺寸：若填充尺寸略大于最大孔尺寸，可以将所有孔都填充，但是会将较小孔周围较大区域都填充了，这样在较小孔周围的缺陷就会漏测；若填充尺寸小于最大孔尺寸，则比填充尺寸大的孔就会出现， 这样就会报告“间距不足”等其它假缺陷。
在处理生成母板资料时，会产生一个资料，此资料记录了母板资料中不符合设计规则的一些图形特征，绝大多数是线宽不足、间距不足类缺陷。当CAM工程 资料中的图形，其设计线宽／间距小于所设定的最小线宽／间距时，在处理生成母板对比资料时，软件就会认为其为缺陷，会将其位置、缺陷类型等信息记录下来，产生一个掩盖文件。
如果保留此掩盖文件，则在检测板面时，这些与掩盖文件所记录的相同位置处的相同缺陷就不会报告了。要尽可能地减少由于孔所引起的假缺陷，建议同时采用保留母板掩盖文件和对孔进行填充的方法。
实验验证
选用线路与铜面混合的图形，设计了开路、短路、残铜、孔破、缺口、突起等各种形式不同大小的缺陷。然后采用不同方法，分析其对检测结果的影响。
孔掩盖方法对检测结果的影响，对孔进行填充时比不对孔填充，所测得的假缺陷数量大大减少，且漏测情况相同， 漏测的缺陷是尺寸小于1.0mil 的微小缺陷（一个孔破、一个残铜），都在可接收标准要求范围内。
母板掩盖资料对检测结果的影响，与删除母板掩盖资料时的测试结果相比较，保留此母板掩盖资料，并不会造成漏测，且会降低假缺陷数。所示结果与理论分析结果相符合，验证了理论分析的正确性。
结论
经过钻孔的板面，孔对AOI 检测有较大影响，在AOI 检测时比未钻孔的板更复杂一些，常会报告很多假缺陷。要减少这类由孔所引起的假缺陷，可根据实际接收标准，选择合适形状及尺寸的掩盖图形，对孔进行填充，同时保留生成母板资料时，所会产生的掩盖文件。采用这种方法，可大大地减少由于孔所引起的假缺陷，且不会造成漏测。