嵌入式存储器的测试及可测性设计研究 引言近年来，消费者对电子产品的更高性能和更小尺寸的要求持续推动着SoC（系统级芯片）产品集成水平的提高，并促使其具有更多的功能和更好的性能。要继续推动这种无止境的需求以及继续解决器件集成领域的挑战，最关键的是要在深亚微米半导体的设计、工艺、封装和测试领域获得持续... 2023-06-13 嵌入式存储器测试可测性设计文章课设毕设测量类
生产制造中的实用的低功耗测试方法 受无线和高功效器件的普及以及提供“绿色”电子系统的需求驱动，设计师越来越多地采用低功率设计来应对越来越艰巨的功能性功耗挑战。直到最近，管理制造测试过程中的功率问题已经成为第二大备受业界关注的要求。但随着器件物理尺寸的不断缩小和电压门限的不断降低... 2023-06-13 可测性设计测试波形功耗选通文章技术应用光电显示
生产制造中的低功耗测试方法 功能模式与测试模式比较多份研究表明，深亚微米器件的测试模式功耗要比功能模式高好几倍。虽然典型测试模式功耗极限通常是功能性功耗的2倍左右，但由于多种原因实际功耗要大得多。例如，为了降低测试仪成本，有时会对多个模块同时进行测试，但在功能性操作中，许多个模块同时工作的... 2023-06-13 可测性设计测试波形功耗选通文章课设毕设测量类
