存储器数据的软误差率(SER)问题 软误差率(SER)问题是于上个世纪70年代后期作为一项存储器数据课题而受到人们的广泛关注的,当时DRAM开始呈现出随机故障的征兆。随着工艺几何尺寸的不断缩小,引起失调所需的临界电荷的减少速度要比存储单元中的电荷聚集区的减小速度快得多。这意味着：当采用诸如90nm这样的... 2023-06-13 存储器数据软误差率SER问题文章基础课其他
