MCU的测试方法。 所谓中测即是WAFER的测试，它会包含产品的功能验证及AC、DC的测试。项目相当繁多，以HOLTEK产品为例最主要的几项如下：1. 接续性测试：检测每一根I/OPIN内接的保护用二极管是否功能无误；2. 功能测试：以产品设计者所提供测试资料(TEST PATTERN)灌入IC，检查其结果是否与当时SIMULATIO... 2023-06-13 MCU耗电测试IO引脚频率特性文章单片机基础知识
利用单片机io引脚驱动led的电路图 图中P0口使用低电平驱动方式，只要加上约1K的限流电阻即可，甚至不需要常见的P0口上拉电阻。发光的段，每个引脚灌电流约为3mA，不发光的段，电流为0。即使各个段全都发光，电流也不超过P0所容许的电流，这是一个合理的驱动方式。 图中P3口使用了高电平驱动方式，这就必须加上上拉电阻来... 2023-06-13 单片机IO引脚驱动LED文章基础知识
