芯片的制造过程可概分为晶圆处理工序(Wafer Fabrication)、晶圆针测工序(Wafer Probe)、构装工序(Packaging)、测试工序(Initial Test and Final Test)等几个步骤。其中晶圆处理工序和晶圆针测工序为前段(Front End)工序,而构装工序、测试工序为后段(Back End)工序。1、晶圆处理工序:本...
日前在美国加州举行的SNUG Synopsys用户研讨会上,Synopsys公司总裁兼首席执行官Aart de Geus指出:“促使芯片节点工艺向更高层次发展的动力将不再是芯片性能的提高,而在系统级芯片(SoC)上集成更多的功能才是刺激芯片工艺向65纳米迈进的原因。”芯片处理速度的加快...